XRF, X-ışını floresans spektrometresi olarak adlandırılır. XRF genel olarak karakteristik X-ışınlarının değerlendirilmesi ve analiz edilmesi açısından önemli bir etkendir. XRF spektrometresi çoğunlukla laboratuvar ortamında geniş bir yer kaplar. Bu spektrometre sayesinde elementel ve kimyasal kompozisyon belirleme işlemleri daha etkin bir şekilde yapılır.
XRF, günlük hayatta kullanılan birçok materyalin temelinde yer alan özel bir analiz tekniği olarak ifade edilebilir. Aynı zamanda birçok metal alaşımın mineralin ve petrol ürünlerinin bileşimini analiz etmek için de XRF desteğine başvurulur. Analiz esnasında yer alan X- ışınları elektromanyetik spektrumların parçasını olarak karşınıza çıkar.
Pek çok maddenin analiz edilmesinde XRF spektrometresi etkin rol oynar. Birçok katı ve sıvı maddenin analiz edilmesi işleminde XRF gerekliler listesinde yer alır. Bunun yanı sıra toz maddelerde yer alan elementlerin incelenmesi için de XRF spektrometresine ihtiyaç duyulur.
XRF analizörleri yaparak hızlı ve etkin sonuçlar sunar. Bu özelliği nedeniyle günlük hayatın pek çok noktasında karmaşık matematik işlemleri XRF desteğini görmek mümkündür. Genel olarak, XRF spektrometresi malzeme doğrulaması, hurda geri dönüşümü, madencilik ve jeokimya, çevresel değerlendirmeler gibi birçok alanda kullanılır.
XRF Spektrometresi Çalışma Prensibi Nasıldır?
Genel olarak, tüm XRF cihazlarında bir X-ışını kaynağı bulunur. Bu ışık kaynağı çoğunlukla X-ışını tüpü olarak karşınıza çıkar ve iki bileşenden meydana gelir. Birincil X-ışınları kaynağın kendisi tarafından üretilir ve daha sonra numune yüzeyine gönderilir. Daha sonra X-ışını modifikasyon işlemi için önceden bir filtreden geçer. Işın numunedeki atomlara çarpar ve neticesinde bir dedektör tarafından hepsi toplanır, bu sayede ikincil ışınlar meydana gelmiş olur.
XRF sistemlerinde yüksek enerjili birincil X-ışını bir atom ile çarpar ve onun dengesinin bozulmasına neden olabilir. Daha sonra bu elektron düşük enerji seviyesine çekilir. Bu sayede bir atom boşluğu meydana gelir ve atom kararsız kalır.
X ışını ile çarpışan atom kararlılığı sağlamak için yüksek enerji seviyesine sahip bir elektron boşluğuna atlar. Elektron bu iki seviye arasında hareket etmeye başlar. Elektronun bu hareketi ile birlikte bir enerji salınımı meydana gelir. Aşırı enerji salınımı ile birlikte ikincil bir X-ışını şeklinde yayılma başlar. Yayılan bu X-ışını enerjisi elementin karakteristiğini ortaya çıkarmış demektir. Bu sayede, XRF ile ölçülen örneğin niteliğine ulaşılmış olur.
