X-ışını floresans spektrometresi, karakteristik X-ışınlarının değerlendirilmesinde ve analiz edilmesinde kullanılan analiz cihazıdır. Genel olarak laboratuvarlarda XRF spektrometresi geniş bir yer kaplar. Elemental ve kimyasal kompozisyonu belirlemede XRF büyük bir etkiye sahiptir.
Temel anlamı ile XRF, X-ışını floresans anlamına gelir. Geniş bir kullanım alanına sahip olan XRF, birçok materyalin temelinde kullanılan özel bir analiz tekniği olarak karşınıza çıkar. Metal alaşımların, minerallerin ve petrol ürünlerinin bileşiminin analiz işlemlerinde XRF sıklıkla kullanılır.
Yaygın bir kullanım alanına sahip olan XRF ile pek çok madde analiz edilebilir. Özellikle magnezyum ve diğer katı-sıvı maddelerin analizi için XRF önemli bir yardımcıdır. Toz maddelerde yer alan ppm ile %100 arasında değişen elementlerin incelenme süreçlerinde XRF spektrometresi geniş bir yer kaplar.
Genel olarak kullanım amacına göre XRF spektrometre cihazları farklı özellikler sergiler. Bazı kullanım alanları için özel olarak üretilen XRF spektrometre cihazları vardır. Buna bağlı olarak XRF cihazları farklı numaralar ile adlandırılır. Söz konusu cihazlar smart, optimum, expert şeklinde adlandırılır. Çoğunlukla XRF cihazları portatif bir yapıya sahip olduğu için kolay bir kullanıma sahiptir.
XRF Spektrometre Analiz Cihazları Kullanım Alanları
Genel olarak XRF ile uygulama yapılan alanları aşağıda bulabilirsiniz.
Metalurji ve kimya endüstrisinde,
Boya endüstrisinde,
Değerli taşlarda,
Yakıt analizinde,
Gıda kimyasında,
Tarım, arkeoloji ve sanat tarihi uygulamalarında,
Çevresel uygulamalarda,
Jeoloji ve mineralojide,
Si, Al, Ti, Mn, Mg gibi ana elementlerin ifade edilmesinde,
Rb, Ba, Sr gibi eser elementlerinde,
Cr, Ni, Co, Cu ve Zn gibi geçiş elementlerinde,
La, Ce, Pr, Nd gibi nadir toprakların analizinde.
XRF Spektrometresi Çalışma Prensibi Nasıldır?
Tüm XRF cihazları farklı bileşenlerden oluşur. Temelde XRF cihazları X-ışını kaynağı ve bir detektör olmak üzere iki parçadan meydana gelir.
XRF’nin çalışma prensibinde ise X-ışınları kaynak tarafından üretilmektedir. Daha sonra XRF cihazı ile ölçümü yapılacak olan numune belirlenir. Ardından söz konusu ışınlar numune yüzeyine yönlendirilir. Gelen ışınlar numunedeki atomlara çarpar ve ikincil bir X- ışınları meydana gelir.
